X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
- 综合评级：
- ★★★★★
- 定价：
- ￥38.60
- 作者：
- 郑振环
- 出版社：
- 中国建材工业
- 出版日期：
- 2016/06/01
- 页数：
- 113
- ISBN：
- 9787516014561
书籍介绍
《x射线多晶衍射数据rietveld精修及gsas软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习x射线多晶衍射rietveld法结构精修和gsas软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。
rietveld法全谱拟合已成为x射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍rietveld法的基本原理和精修过程。
第1章简要介绍rietveld法的发展概况和基本原理。
第2章介绍精修软件expgui-gsas的安装和使用界面。
第3章介绍rietveld法x射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示expgui-gsas精修过程以及结果的提取和图谱绘图。
第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
目录
第1章 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.3.1 参数修正的顺序
1.3.2 精修的数值判据
1.3.3 精修的图示判断
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
1.5.1 修正晶体结构
1.5.2 相变研究和点阵常数测定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1 菜单栏
2.3.2 选项卡界面
2.3.3 EXPGUI帮助内容
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1 精修前的准备工作
3.1.1 衍射数据的测定
3.1.2 衍射数据的转换
3.1.3 初始结构的获取
3.2 EXPGUI精修简单示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修过程
3.2.3 常见问题
3.3 精修结果提取与绘图
3.3.1 精修结果提取
3.3.2 精修图谱绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习
4.1 仪器参数文件的建立
4.1.1 基本知识
4.1.2 操作过程
4.2 物相（含非晶）定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射数据测试
4.2.3 精修过程
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用
4.3.1 问题描述
4.3.2 精修过程
参考文献
